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了解金属膜电阻器的人都知道它是以合金粉为原材料，通过真空高温蒸发的方式，将其沉积在绝缘瓷棒上形成一层金属膜，然后进行高温热处理，使之形成结构致密、完善、电性能优良的电阻膜。再通过加引线帽，切割螺旋槽，调整阻值，涂护漆层等工艺而形成。那么，你知道金属膜电阻器的失效模式有哪些吗？下面小编简单介绍一下：

金属膜电阻器的失效模式主要有：开路、短路、阻值的异常漂移和超差等。这些失效与产品生产过程和使用条件以及本身存在各种缺陷有密切关系。
1、开路：导致金属膜电阻器开路的主要原因有：瓷心基体破裂、电阻膜破裂，电阻膜分解以及引线断裂等原因。
2、短路：导致金属膜电阻器短路的原因有：电晕放电、银迁移等两种原因。
3、金属膜电阻失效的主要模式是阻值的异常漂移和超差。其主要原因是：导电膜层的厚度不均匀，有疵点、膜层的螺旋槽间有导电沾污物以及膜层与帽盖的接触不良等原因，这些原因均影响电压分布不均匀，所以会有很高的电位梯度和严重的局部过热，严重时导致击穿或烧毁。一般都是由缺陷引入潮气使金属膜电阻器局部电解，从而使阻值发生显著的漂移或加速膜层的氧化和有机材料的显著老化。

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